背散电子应用 来看看善时仪器的应用

小编 2024-10-14 电子应用 23 0

来看看善时仪器的应用

深圳市善时仪器有限公司是一家集研发、制造、销售服务为一体的国家高新技术企业。是专业的X荧光光谱分析仪研发、生产、销售一体型企业。深圳市创新企业、大型科研项目合作企业等,公司团队从2005年开始研发荧光光谱仪技术,从软件到硬件,经过十几年的沉淀,先后有30多项相关专利。

主要产品有:

1.X射线荧光成分分析

2.X射线荧光镀层测厚

3.扫描电子显微镜(材料微观表面成像)

4.3D光学测量系统

5.实验室解决方案

EDX-1000铜合金分析仪

EDX-1000铜合金分析仪;

功能强大 准确无损 快启快测 一键操作!

采用真空样品腔;

专业用于铜、铁、锌等合金的金属元素分析;

样品形态可为固态,液态,粉末。

应用领域:

EDX-1000铜合金分析仪广泛应用于冶炼、矿山、机械加工、电子电器、土壤分析、考古等行业;

功能强大 准确无损 快启快测 一键操作!

采用真空样品腔;

专业用于铜、铁、锌等合金的金属元素分析;

样品形态可为固态,液态,粉末。

图谱界面:

软件支持无标样分析,可任意进行定性、定量分析,使用灵活;全元素分析、RoHS和金属镀层分析于一体的测试软件;同时可以显示25种元素分析结果;

采用多种光谱拟合分析处理技术。

合金分析报告结果:

直接打印分析报告;报告可转换为PDF,EXCEL格式。

技术特点:

EDX-1000铜合金分析仪元素分析范围从钠(Na)到铀(U);元素含量分析范围为1ppm到99.99%;测量时间:40~120秒;SDD探测器,能量分辨率为125±5eV;

X射线管50kV/1mA;

温度适应范围为15℃至30℃;多变量非线性去卷积曲线拟合;高斯平滑滤波校正;高性能FP/MLSQ分析;合金分析仪器尺寸:500×380×380mm;

样品室尺寸:195×195×40mm。

样品分析图谱:

标准曲线图谱:

测试结果界面:

iEDX-150WT镀层厚度分析仪

ISP iEDX-150WT镀层厚度分析仪;

采用非真空样品腔;

专业用于PCB镀层厚度测量,PCB镀层分析,金属电镀镀层分析;

集成了镀层分析界面和合金成份分析界面;可同时增加镀层中的合金成份分析及RoHS功能。

应用领域:

iEDX-150WT镀层厚度分析仪应用于PCB镀层厚度测量,PCB镀层分析,金属电镀镀层分析领域;

技术指标:

多镀层,1~5层;

测试精度:0.001 μm;

元素分析范围从铝(Al)到铀(U);

测量时间:10~30秒;

SDD探测器,能量分辨率为125±5eV;

探测器Be窗0.5mil(12.7μm);

微焦X射线管50kV/1mA,钼、钨、铑靶;

6个准直器及多个滤光片自动切换;

XYZ三维移动平台,MAX荷载为5公斤;

高清CCD摄像头,准确监控位置;

多变量非线性去卷积曲线拟合;

高性能FP/MLSQ分析;

仪器尺寸:840×613×385mm;

样品台尺寸 :620×525mm;

样品台移动范围 :前后左右各100mm、高度5mm。

图谱界面:

软件支持无标样分析;

宽大分析平台;

可自动连续多点分析;

集成了镀层分析界面和合金成份分析界面;

采用多种光谱拟合分析处理技术。

SS-150系列扫描电镜

SS-150系列台式扫描电镜具有体型小巧,占用空间小;

放大倍率30~150,000 X ;

5nm分辨率;

采用二次电子和背散电子双重探测器;

通过选配EDS可进行元素成份分析;

SS-150系列扫描电镜具有强大软件功能,操作简单,易于维护;

国产扫描电镜,良好售后服务系统。

产品说明:

(1)放大倍率15万倍;

(2)采用二次电子和背散射电子双重探测器;

(3)1kV~30kV加速电压选择,图像分辨率高;

(4)通过选配EDS可进行元素成份分析;

(5)Tilt(0~90)载物台配置(可选择)

产品特性:

(1)台式扫描电镜,体型小巧,占用空间小;

(2)强大的软件功能,单窗口操作界面让用户操作方便简单;

(3)软件实现检测图形实时存储;

(4)扫描电镜产品结构设计简洁,易于维护及保养;

(5)自动平台采用中心定位模式,迅速定位待测样品;

(6)高真空设计,可调式电压,为不同样品提供更合适的检测环境。

iEDX-200AT RoHS有害元素分析仪

应用领域:

应对非破坏检测;汽车零件,电路板,电器 连接器,移动电话和IT产品;测量涂层中的贵重金属;产品的研发,产品发展和定量控制。

技术指标:

RoHS/WEEE/ELV无损检测;

准确的Cr, Pb, Hg, Cd 定量分析;

多镀层,1~6层;

测试精度:0.01 um;

元素分析范围从钠(Na)到铀(U);

测量时间:10-60秒;

自动校准功能;

5个准直器、滤光片自动切换;

SDD探测器,能量分辨率为125±5eV;

X射线管50KV/1mA,钨靶;

高清CCD摄像头,准确监控位置;

高性能FP/MLSQ分析;

样品室尺寸 500x470x200 mm;

移动距离 200(X)x200(Y)x150(Z) mm;

仪器尺寸 550x700x570 mm。

声迅股份取得基于小波变换的背散 X 光图像降噪方法专利,提高背散 X 光图像的清晰度和图像质量

金融界 2024 年 8 月 4 日消息,天眼查知识产权信息显示,北京声迅电子股份有限公司取得一项名为“基于小波变换的背散 X 光图像降噪方法“,授权公告号 CN117911267B,申请日期为 2023 年 12 月。

专利摘要显示,本发明提供一种基于小波变换的背散 X 光图像降噪方法,该方法包括:基于小波变换对待降噪背散 X 光图像进行小波分解,得到低频子图像和高频子图像;将低频子图像分解为至少两个图像块;针对各图像块,基于图像块的中心像素点的邻域像素点的像素值,预测图像块的中心像素点的目标像素值;基于各图像块对应的目标像素值,确定低频子图像对应的去噪低频子图像;基于小波系数和预设阈值,确定更新后的小波系数,并基于更新后的小波系数,对高频子图像进行去噪,得到去噪高频子图像;基于去噪低频子图像和去噪高频子图像,确定待降噪背散 X 光图像对应的去噪背散 X 光图像。本发明可以对背散 X 光图像进行降噪,提高背散 X 光图像的清晰度和图像质量。

本文源自金融界

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