电子探针应用范围 “仪器平台巡礼”④|电子探针与扫描电镜实验室

小编 2024-11-25 电子应用 23 0

“仪器平台巡礼”④|电子探针与扫描电镜实验室

导读:

中国科学院地质与地球物理研究所公共技术中心是我国地球与行星科学领域具有国际先进水平的综合性技术支撑服务平台,旨在通过技术方法研发和技术服务为科技创新提供关键技术支撑。为进一步加深所内外科研人员对我所公共技术中心的了解,深入推进技术交流与合作,提高支撑服务水平,促进大型科研仪器开放共享,科技平台处策划了“仪器平台巡礼”栏目,逐一系统介绍公共技术中心的仪器平台。本期介绍电子探针与扫描电镜实验室。

01

实验室简介

电子探针与扫描电镜实验室 (Electron Probe and Scanning Electron Microscopy Laboratory)隶属中国科学院地质与地球物理研究所公共技术中心,是我所最早一批建立的实验室之一,经历了四代电子探针和三代扫描电镜的仪器更替。

02

实验室主要分析对象

及应用领域

电子探针与扫描电镜实验室主要针对固体地质样品的微区形貌和结构观察(亚微米级)、高精度微区(微米级)原位无损成分分析以及元素线、面扫描分析。面向国内外地球科学领域的科研人员和研究生开放,主要服务于固体地球科学、行星科学和环境科学等研究领域。

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代表性成果

1. 尖晶石微量和铁价态分析支撑战略性金属矿床成因研究

尖晶石普遍发育于镁铁-超镁铁岩,是铬-铜-镍-钴等战略性金属矿床中的重要矿物,其微量元素和铁价态可用于限定矿床岩浆演化过程。本实验室基于电子探针,研发了同时测定尖晶石微量元素和Fe3+/ΣFe高精度分析方法,微量元素检测限为16-55 ppm (3σ),分析精度优于10%,Fe3+/ΣFe分析精度为±0.04(2σ)。该方法已成功应用于铜镍钴等矿床成因研究。

2. 月球玻璃珠微量元素电子探针高精度分析技术

月球玻璃珠是月壤的重要组成部分,含有Na、K、P、S、Cr和Ni等微量元素,它们是确定月球玻璃珠类型、约束月球岩浆演化和挥发分演变过程的重要基础。本实验室成功建立了月球玻璃珠微量元素的电子探针高精度分析方法,检测限降至17-96 ppm (3σ),分析精度优于10%。该方法可应用于嫦娥五号等返回月壤中的玻璃成分分析。

3. 单颗粒月壤全岩成分快速自动分析

嫦娥五号月壤具有细小、珍贵、颗粒多、成分复杂等特点,平均粒径不足50微米。获取如此细小颗粒的全岩成分,是对微束分析技术的一大挑战。我们采用大数据分析方法结合扫描电镜能谱定量面扫描分析技术,实现全岩成分的自动计算。该方法将常规面积法相对误差缩小2-3倍,且单个月壤颗粒仅需2个小时,分析效率显著提高。

4. 多相复杂包裹体的三维显微拉曼光谱定量分析技术

俯冲带超高压岩石中常见复杂的流体包裹体,蕴含俯冲带深部流体的物质信息。本实验室使用显微拉曼光谱仪,对超高压多相流体包裹体进行了三维成像建模技术研发。重建了被捕获流体的成分,解析了包裹体的内部三维结构,首次实现俯冲带深部超临界流体组成的定量分析。

04

实验室主要仪器

电子探针

(JEOL JXA-8100)

该仪器由日本JEOL公司制造,配备钨灯丝电子枪、4道波谱仪、8块分光晶体和INCA能谱仪。仪器束流范围为10-5 ~ 10-12A,图像可实现40倍至30000倍的观察,空间分辨率可达数十纳米级别。该仪器可进行高精度的点、线、面扫描分析。

电子探针

(CAMECA SXFiveFE)

该仪器由法国CAMECA公司生产,配置场发射源、4道波谱仪、8块分光晶体。加速电压为5~30kV,空间分辨率可达6nm,可分析F~U间的元素。在10kV加速电压的条件下,可获得100nm直径的电子束,从而确保高质量、高精度的微量元素和稀土元素分析。

扫描电镜-拉曼联机系统

Gemini 450场发射电镜为德国Zeiss公司生产,Alpha 300R激光拉曼光谱仪为德国WITec公司生产。该系统配备了两种二次电子探头和背散射电子探头。电子束分辨率可达1.0nm,放大倍率范围12~2000000倍。加速电压20V~30kV,电子束流3pA~0nA。共聚焦拉曼光谱仪可进行固体样品超高分辨率的点/线/面/三维拉曼光谱分析。

激光拉曼光谱仪

(WITec alpha 300R)

该仪器由德国WITec公司生产,配置ZEISS 多个倍数物镜,搭配488nm和532nm激光器以及300、600和1800g/mm三种光栅。该仪器具有易操作、自动化程度高、高空间分辨率特点,可进行气、液、固态物质官能团定性分析;物质特定成分的定量分析;高温高压条件光谱测试;显微单点分析、二维显微成像、三维显微成像。

傅里叶变换红外光谱仪

德国布鲁克红外光谱仪,主机型号为VERTEX 70V,配置有HYPERION 2000型红外显微镜、MCT检测器。可进行气、液、固态物质官能团定性分析;高温高压条件光谱测试;有机/无机物质特定成分定量分析;显微单点分析与二维显微成像。

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实验室技术服务项目

(1)电子探针

1. 常规硅酸盐矿物、硫化物、碳酸盐、磷酸盐等主量元素定量分析

2. 特定矿物(如橄榄石、斜方辉石、石英、钛铁矿、尖晶石和金红石等)微量元素定量分析

3.低含量挥发组分(如F、Cl等)分析4.尖晶石中主、微量元素和Fe3+ /∑Fe同时分析

5. 稀土矿物成分分析

6. 造岩矿物中主要元素的面扫描分析(X-ray Mapping)

(2)扫描电镜

1. 微米尺度上矿物BSE、SEI图像观察、拍照

2. 造岩矿物面扫描与定量分析技术

3. 微细矿物快速定位与定量分析技术 (SEM)

(3)红外光谱-拉曼光谱

1. 气、液、固态物质定性定量分析

2. 地质样品挥发分定性定量分析

3. 红外/拉曼光谱显微成像

06

实验室人员

陈意

研究员

实验室主任

贾丽辉

高级工程师

技术负责人

张迪

高级工程师

李晓光

高级工程师

原江燕

高级工程师

07

联系方式

联系人:贾丽辉

联系电话:010-8299 8483

邮箱:jialihui@mail.iggcas.ac.cn

实验室地点:北京市朝阳区北土城西路19号地7楼325室

关于电子探针与扫描电镜实验室的更多信息

策划|科技平台处

供稿|电子探针与扫描电镜实验室

编辑|薛皓中

探针的种类及其在半导体测试领域的应用

在广大的电子测试行业中,测试探针的应用非常广泛,人们通常根据应用对测试探针进行分类。

电子行业有很多测试场合,如晶圆测试、封装测试、PCB裸板测试、负载板的在线测试和功能测试(FCT)以及电池测试。

根据功能测试的不同,工程师将测试分为开/短测试、大电流测试、高频测试、开关测试等。

一,半导体测试探针IC_Test_Socket

几乎所有的半导体都用于BGA、LGA、QFN、QFP、SOP等封装芯片的老化测试,因为芯片引脚pitch小,因此这类的双头测试探针都是非常精细的探头,甚至覆盖在高温、高湿、低温和高频等环境下使用。

二,标准ICT和FCT探针

也就是我们所说的ICT和FCT探针测试探针,简而言之,从39mil到187mil的测试球场,这些测试探针用于检测负载的pcb板和服务器板。

三,螺纹/旋转探针

这种类型的测试探头可以测试线束或电缆块的端子,可以覆盖50mil到150mil的测试间距。我们应该考虑高电流使用螺纹/拧入探针。

带螺纹的旋转测试探针大部分应用测试汽车线束的测试,探针上的螺纹可以和内螺纹的针套匹配支撑以防止探针移位,这样可有有效测试线束。

应用:线束线缆、开关测试、端子检测、高电流测试等

四,转接针/界面针

接口插脚一般是根据测试夹具或测试仪(Teradyne和Keysight)定制的专用插脚。

五,高电流探针

高电流探头通常被设计用来测试一些功率大、电流大的模块,它们的指定电流为10-100安培甚至更高。

六,电池探针

世界上许多充电产品都采用了电池探针进行电流充电。基本上,它们由注入模块覆盖。一些高质量的电池探头将用于照相设备或磁性连接器。

七,裸板测试探针

裸板探测仪是一种短探头,其俯仰范围从25mil到50mil

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